標題：涂層材料來源、變化和厚度計量光學顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2017-10-4 19:17:40
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正文:
涂層材料來源、變化和厚度計量光學顯微鏡
精確性
為了達到最佳精確度，注意三個引起誤差的因素很重要：涂層
材料的來源、背景變化和干擾。盡管尚不能解釋原因，但已注意到
來自不同供應商的硅元素靈敏度不同。即使在主要成分相同的紙上
做分析，來自不同供應商的硅元素的直線斜度也有差異。為了避免
此類誤差，應對每一個供應向的硅元素分別連立校準：另外，對背
景變化進行校準可以減少錯誤。
同一硅元素在高級日歷牛皮紙上的兩套標準，牛皮紙的生產(chǎn)日
期不同�？梢悦黠@看到，兩個試樣的斜度相同，但有些偏移。分析
者可以讓操作者從大量將被涂覆的紙中取出一未涂覆試樣插入儀器
，對背景變化進行校準。因此，隨后進行的所有分析都對明顯的背
景變化做了校準。
最后一個引起誤差的因素是高濃度的其他物質。如聚氯乙烯(P
VC)上的硅氧烷涂層或二氧化鈦填充的薄膜。當膜中的濃度變化時
，光譜中的硅元素區(qū)域的背景效應發(fā)生了變化。因此，膜試樣的表
觀硅涂層的最將升高或降低-用裝在分析器中的軟件能夠很方便地
校準這類下擾。光譜掃描可以識別這類干擾，并在校準寸自動補償
。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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