標題：滲透致密砂巖氣藏水礦物分析圖像顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2017-11-7 17:24:10
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正文:
滲透致密砂巖氣藏水礦物分析圖像顯微鏡
在水鎖損害研究的基本架構體系范圍內(nèi)，對低滲透致密砂巖氣藏水
鎖損害形成的機理、特征以及預防和解除技術進行了系列探討，但水鎖
損害本身涉及廣闊的研究領域和復雜的知識體系。筆者認為至少在以下
幾個方面值得繼續(xù)探討：
(1)有關氣、水兩相的分布狀態(tài)。雖然很多研究者以及筆者都對水
鎖損害和解除過程的氣、水兩相分布狀態(tài)進行了探討，但很多問題還有
待進一步深入。比如，水侵形成束縛氣量的：長小以及束縛氣的空間分
布與孔隙結(jié)構和壓差之間的關系如何？在氣驅(qū)反排過程，氣體如何在孔
隙中形成連續(xù)的通道，是否能夠釋放水侵過程形成的束縛氣？這些問題
可能需要借助更為接近巖石真實情況的微觀驅(qū)替模型進行研究。
(2)有關水鎖損害評價與預測。對于一般的儲層損害類型，大部分
已經(jīng)建立了相當規(guī)范和標準的評價方法和程序。對于水鎖損害，雖然目
前已經(jīng)有不少研究者進行了評價，但還未能形成較為系統(tǒng)的評價方法和
程序，對水鎖模擬中的一些關鍵問題也還未形成統(tǒng)一的認識。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/10490.html
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