標題：顯微鏡測量顆粒直徑時-測量顆粒投影像的尺寸
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2018-10-24 23:19:26
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正文:
顯微鏡法
使用顯微鏡可以直接觀測到顆粒的形狀和大小，可以直接用觀察到的
幾何圖像確定顆粒的尺寸，所以顯微鏡法往往作為其它間接測定方法的基
準。這種方法所需的試樣分量不多，靈敏度較高；不僅可以直接觀察，而
且還可以通過拍攝將結(jié)果記錄下來。這些都是其它方法比不上的優(yōu)點。
另一方面，由于所取的試樣分量很少，所以這種方法對試樣有無代表
性的要求甚嚴。同時對試樣的制備技術(shù)要求也比較嚴格。用顯微鏡觀測顆
粒的尺寸時，有著許多獨特的表示方法。因此，充分了解各種顆粒直徑的
意義便顯得格外重要。
使用顯微鏡測量顆粒直徑時，通常都是測量顆粒投影像的尺寸。除了
必須測量厚度的特殊情況之外，一般只限于測定顆粒的平面像。
激光衍射撒射法粒度分布測定儀
前已提及，使用激光測定顆粒的尺寸分布時，較粗的顆粒宜用衍射法
，較細的顆粒宜用散射法。為了擴展測定范圍，最近出產(chǎn)的光學顆粒測定
儀，已不再單純使用一種方法，而是將衍射法和散射法合并在同一臺測定
儀器中，這便是衍射撒射法粒度分布測定儀。在這種儀器中，對于lO,tm以
上的顆粒用Fraunhofer衍射進行測定；對于0．4—10t~m的顆粒則用Mie散
射理論分析。若要將測定對象擴展到0．4弘m以下的顆粒，由于在其散射圖
中幾乎看不到因顆粒直徑的不同而引起的差別，所以要從散射圖中得出正
確的數(shù)據(jù)是有困難的。為此，還得在儀器中添加偏光散射的集光裝置，以
彌補這方面的不足，從而能夠一直測到小至
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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