標(biāo)題：儲(chǔ)集層造巖礦物樣品孔隙度計(jì)量顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2019-8-6 0:04:15
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正文:
儲(chǔ)集層造巖礦物樣品孔隙度計(jì)量顯微鏡
“孔隙度測(cè)井曲線”是一個(gè)非正式的一般術(shù)語(yǔ)，它是指用聲波、密度
或中子測(cè)井儀中任一種所測(cè)量的井下剖面的曲線記錄。這個(gè)名稱反映這些
曲線的主要功能是定量評(píng)價(jià)孔隙度。每一種儀器測(cè)量完全不同的物理性質(zhì)
：彈性波縱波速度，電子密度和相對(duì)含氫濃度。但是，對(duì)于每一種方法來
說，儀器對(duì)孔隙中流體的響應(yīng)和對(duì)巖石骨架礦物的響應(yīng)都存在著明顯的差
別。因此，基本的測(cè)量結(jié)果都可以變換為用來估計(jì)流體含量的比例，而這
個(gè)比例與孔隙的體積是對(duì)應(yīng)的。
一般儲(chǔ)集層造巖礦物的聲波、密度和中子特性，都存在比較小的，但
是系統(tǒng)的差異。對(duì)于每一種儲(chǔ)集層巖石，零孔隙度端點(diǎn)的不同數(shù)值，確定
出單獨(dú)的孔隙度標(biāo)尺。因此，為了準(zhǔn)確估計(jì)孔隙度，需要預(yù)先知道一些關(guān)
于巖性(一般為砂巖、石灰?guī)r或白云巖中的一種)的情況。如果沒有這些信
息時(shí)，可以用幾種孔隙度測(cè)井曲線組合構(gòu)成的重疊圖和交會(huì)圖來推斷巖性
，如第五章所述。
在分析壓實(shí)趨勢(shì)和下沉速率，以及大地構(gòu)造歷史的信息時(shí)，對(duì)泥巖地
層測(cè)井曲線特征隨深度的變化進(jìn)行了分析。最后，把孔隙度趨勢(shì)和模式的
形狀，做為判斷沉積結(jié)構(gòu)和成巖改造的資料進(jìn)行了討論。
現(xiàn)在仍然大量地用于這個(gè)目的，作為構(gòu)成“合成地震記錄”的手段。
井下地層序列的劃分，對(duì)于地質(zhì)學(xué)家是一個(gè)常規(guī)工作，他們是根據(jù)巖屑和
測(cè)井曲線兩種信息進(jìn)行的。地質(zhì)學(xué)家劃分的地層頂界，經(jīng)常和明顯的速度
變化相一致，特別是當(dāng)這些邊界對(duì)應(yīng)于厚的泥巖與比較堅(jiān)硬的砂巖、石灰
巖和白云巖的界面時(shí)。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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