標(biāo)題：巖心分析孔隙度樣品分析圖像顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2019-8-7 2:21:54
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正文:
巖心分析孔隙度樣品分析圖像顯微鏡
與巖心分析結(jié)果對(duì)比
如果在井小的某段采取了巖心，可以用孔隙度和顆粒密度的工程值來
校正孔隙度測(cè)井曲線。巖心平均孔隙度和孔隙度測(cè)井曲線相比較，可以計(jì)
·算出需要加到測(cè)井曲線上的移動(dòng)值。應(yīng)該經(jīng)常記住，巖心測(cè)量本身容易
出現(xiàn)差錯(cuò)，并月．不同的孔隙度測(cè)量方法(應(yīng)用氣體膨脹波義耳定律或流體
總量法)也會(huì)產(chǎn)生有規(guī)律的不同結(jié)果。當(dāng)巖心與測(cè)井結(jié)果對(duì)比時(shí)，樣品尺寸
的差別是一個(gè)特別需要考慮的重要因素。小直徑巖樣孔隙度測(cè)量結(jié)果的垂
：苴剖面，一般比孔隙度測(cè)井曲線表現(xiàn)出更多的變化，因?yàn)闇y(cè)井曲線受儀
器較粗的垂直分辨牛的影響而被平滑了。但是，同一層段上兩個(gè)來源的孔
隙度數(shù)據(jù)的平均值，應(yīng)該是相似的，悶為它們是同一參數(shù)的估計(jì)值。
作為標(biāo)準(zhǔn)化的準(zhǔn)備步驟，對(duì)孔隙度敏感的各種測(cè)井曲線必須移動(dòng)到一
個(gè)共同的汜錄深度，并同取心段的深度一致。同樣的問題在處理傾角測(cè)井
曲線時(shí)出現(xiàn)，即必須確定不同微電阻率曲線在垂向上的相對(duì)偏移。這種運(yùn)
算的簡(jiǎn)單數(shù)學(xué)方法是相關(guān)對(duì)比法。這個(gè)方法足對(duì)曲線間一系列的對(duì)比位置
計(jì)算相關(guān)系數(shù)。在對(duì)比位置晨，相關(guān)系數(shù)是
～：十汽券皂體擴(kuò)式中s．�！順�(biāo)準(zhǔn)偏差。移動(dòng)曲線使曲線之間的
偏移或錯(cuò)開的距離逐漸增大，并把每個(gè)位置上計(jì)算的相關(guān)系數(shù)按錯(cuò)開距離
畫出，則可以確定出最佳的相關(guān)位置。這個(gè)過程用下面的例子來說明。
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用不同種類的儀器進(jìn)行了測(cè)井。為了確定最佳相關(guān)位置，整個(gè)層段的
中子、密度、聲波和側(cè)向電阻率測(cè)井曲線都分別與巖心孔隙度系列作了相
關(guān)對(duì)比。相關(guān)位置決定各條測(cè)井曲線垂向上必須移動(dòng)的距離，以便集中到
共同的深度記錄點(diǎn)。相關(guān)對(duì)比相對(duì)于錯(cuò)開距離作圖
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/12063.html
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