標(biāo)題：巖溶型儲(chǔ)層碳酸鹽巖剖面地層礦物分析顯微鏡
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2019-8-12 3:55:32
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正文:
巖溶型儲(chǔ)層碳酸鹽巖剖面地層礦物分析顯微鏡
從碳酸鹽巖地層剖面儲(chǔ)層發(fā)育規(guī)律來(lái)全面考查，儲(chǔ)層的發(fā)育主要是裂
縫型和巖溶型兩大類(lèi)且由上述四類(lèi)不同空隙空間儲(chǔ)層組合而成的。下文將
著重從這兩大類(lèi)儲(chǔ)層人手進(jìn)行測(cè)井響應(yīng)及評(píng)價(jià)分析。第二節(jié) 碳酸鹽巖儲(chǔ)
層測(cè)井響應(yīng)特征
碳酸鹽巖剖面地層中裂縫是進(jìn)行儲(chǔ)層劃分、類(lèi)型判別和綜合評(píng)價(jià)的基
礎(chǔ)，而巖溶體系是特定層位發(fā)育的特殊儲(chǔ)層。因此，識(shí)別各種裂縫的測(cè)井
響應(yīng)特征自然成為測(cè)井評(píng)價(jià)的核，L、。一、巖溶型儲(chǔ)層的測(cè)井響應(yīng)特征
這類(lèi)儲(chǔ)層在塔里木盆地和鄂爾多斯盆地奧陶系碳酸鹽巖地層中均較發(fā)
育，縱向上大體分為兩個(gè)帶：即上部垂直滲濾帶，下部為水平潛流巖溶帶
。對(duì)于水平潛流帶據(jù)其發(fā)育特征又可進(jìn)一步細(xì)分。
(一)滲濾巖溶帶測(cè)井響應(yīng)特征
該帶巖溶特征是地表水流向下沿裂縫或斷層垂直滲流，對(duì)碳酸鹽巖進(jìn)
行溶蝕而形成垂向上的溶縫、溶孔和落水洞，其中往往有后期沉積物(泥、
角礫)充填。該帶典型地質(zhì)特征為：①未充填或含泥的溶縫、溶孔；②含泥
小型溶洞；③角礫巖。
其測(cè)井響應(yīng)特征主要包括以下三個(gè)方面：
]．溶縫、溶孔的測(cè)井響應(yīng)特征
(1)雙側(cè)向電阻率(DLL)較低，且出現(xiàn)正差異，地層傾角測(cè)井(HDT)出現(xiàn)
低阻異常，中子孔隙度(CNL)較大，表明地層中存在縫、孔；
(2)若自然伽馬(GR)低，特別是釷(Th)和鉀(K)低。有明縫、無(wú)泥質(zhì)充
填(如 (3)地層傾角測(cè)井出現(xiàn)相關(guān)性不好的針刺狀低阻異常，這是角礫
巖的典型測(cè)井特征；
(4)變密度圖中出現(xiàn)扭曲、畸變等干涉現(xiàn)象；
(5)在井下聲波電視圖上，反映為直觀的角礫巖圖像，即白色圖像的石
灰?guī)r角礫(聲阻反抗和反射系數(shù)較大)被暗色圖像的泥質(zhì)(聲阻抗和反射系數(shù)
小)所包絡(luò)。
利用井下聲波電視識(shí)別溶洞界面傾向
識(shí)別溶洞界面傾向是井下聲波電阻最突出的能力之一，這是其它方法
所不能及的。聲波電阻壁圖像是展開(kāi)的帶方位的井壁聲波圖像，由于溶洞
界面上下巖性的聲阻抗存在較大的差異，因而其界面及方位在井壁圖像上
能清楚地顯示出來(lái)。排除地層傾角的影響便可從井壁圖像上識(shí)別溶洞界面
的實(shí)際傾向。古水流方向由北向南，這與當(dāng)時(shí)總的地質(zhì)背景是一致的。在
溶洞垮塌帶(巖溶體系下部)，可能反映了不同時(shí)期地面和暗河水流方向的
差異。但是，由于溶洞界面的形狀和方向在短距離內(nèi)變化較大，而井眼直
徑(10—55cm)又較小，井下聲波電阻反映的溶洞界面僅為局部，因此，僅
靠一口井的井
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專(zhuān)業(yè)的供應(yīng)商
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