標(biāo)題：顆粒復(fù)型技術(shù)和金屬投影技術(shù)試樣制備
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2020-2-19 0:17:04
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顆粒復(fù)型技術(shù)和金屬投影技術(shù)試樣制備
對(duì)于100nm以下的超細(xì)顆粒進(jìn)行分析時(shí)，采用超薄切片的自然固化，先
用按一定配方和條件混合自然固化的環(huán)氧樹脂將顆粒包埋，再用超薄切片
機(jī)切成30—100nm左右的薄片，即可撈在銅網(wǎng)上在電鏡下直接觀察。
還可采用顆粒復(fù)型技術(shù)和金屬投影技術(shù)進(jìn)行試樣的制備，因?yàn)楸挥^測(cè)
顆粒對(duì)電子束的透明性很差，在熒光屏上顯示的是顆粒的投影像，要使顆
粒像更具有立體感或要觀察其表面形貌，常使用顆粒復(fù)型技術(shù)和金屬投影
技術(shù)。
掃描電鏡粉體的試樣制備
掃描電鏡的分辨本領(lǐng)較低，但分析快，并能得到更多三維空間的細(xì)節(jié)
，亦更易于輸人圖像分析儀，還可將幾種圖像信號(hào)及X射線信號(hào)結(jié)合到一起
分析，實(shí)現(xiàn)顆粒的自動(dòng)識(shí)別和分類統(tǒng)計(jì)。掃描電鏡能容納大到25X25mm的試
樣，而且放大倍數(shù)可波動(dòng)在20至100000倍之間，分析顆粒粒度的范圍亦較
大，景深很大，能觀察更多關(guān)于顆粒和表面結(jié)構(gòu)的信息。
一般性顆粒試樣可用雙面粘膠帶制備，將雙面粘膠帶粘于SEM目標(biāo)端頭
，把粉末撤向粘膠帶，再用“小皮吹”吹去多余的顆粒即可。此方法不適
用于自動(dòng)圖像儀，后者一般采用將顆粒懸浮液噴到鍍鋁載玻片上，
粉料顆粒的粒徑測(cè)定和粒度統(tǒng)計(jì)要求用圖像分析儀測(cè)量已制試樣上所有
的顆粒大小是不現(xiàn)實(shí)的，必須隨機(jī)地或按照預(yù)先指定的規(guī)程從已制試樣中
取若干區(qū)域進(jìn)行測(cè)量。最簡單的是測(cè)定按一定規(guī)定選擇的一定視域600個(gè)以
上的顆粒。計(jì)算粒度分布應(yīng)視測(cè)量的是粒數(shù)分布還是重量分布而定。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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