標(biāo)題：掃描探針顯微技術(shù)的基本原理
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2011-12-3 23:27:03
將本頁加入收藏
下一篇：掃描穿隧電子顯微鏡在1986年獲諾貝爾物理獎
上一篇：掃描探針顯微技術(shù)和優(yōu)缺點？
點擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報價--丨--
---
---
---
正文:
掃描探針顯微技術(shù)的基本原理
利用探針與試片表面間產(chǎn)生的交互作用由于其距離小至幾個nm，所以探針尖端與表面距離稍微改變時，
其作用力改變相當(dāng)激烈明顯
探討掃描探針顯微技術(shù)時，基本參數(shù)是『探針與表面的距離』，一般指的是『探針尖端原子核與表面原子核的距離』在此等距離數(shù)量下，作用力依距離大小的不同可分為
三類：
距離最近的是由原子核間產(chǎn)生的靜電排斥力；
中等距離的是原子間的吸引力；
距離最遠(yuǎn)的是由原子電偶極矩與電場作用產(chǎn)生的凡得瓦爾力
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/1454.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商