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正文:

描式電子顯微鏡對(duì)納米表面的檢測(cè)

過去僅能用一般光學(xué)顯微鏡探察物質(zhì)的表面，近年來顯微觀察技術(shù)的進(jìn)步，已能藉由精良的電子顯微技術(shù)觀察或偵測(cè)納米表面的形態(tài)。這些常見的電子顯微觀察技術(shù)，包括掃

描式電子顯微鏡莈穿
透式電子顯微鏡莈掃
描穿隧顯微鏡莈表面
電位顯微鏡莈原子力
顯微鏡等技術(shù)。

不過，由于顯像的方便性莈迅速性莈稛敏性與解析度的需求，比較常用的是原子力顯微鏡。當(dāng)黏附在懸臂式彈簧片上的顯微掃描探針鉉端與樣品表面接近時(shí)，因力場(chǎng)而產(chǎn)生作用力，造成懸臂簧片的微小偏折。利用這個(gè)簧片的彈性變形量，轉(zhuǎn)換成電子訊號(hào)，便可以把樣
品的表面形態(tài)以圖像的方式展現(xiàn)出來。