信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2011-12-13 11:11:49
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正文:
以臨界角法結(jié)合共焦顯微鏡的基本原理,組成一個具有高解
析度及長深度量測的光學(xué)量測系統(tǒng),增進(jìn)原有共焦顯微鏡性能,可應(yīng)用于
如光學(xué)表面、生物醫(yī)學(xué)、微奈米…等三度空間影像方面的量測。預(yù)計縱向
的解析度約可高于5nm,以及橫向解析度可高于0.3μm,并且其最大位移量
可大于±20μm。
關(guān)鍵詞:共交顯微術(shù)、臨界角
近年來共焦顯微鏡已經(jīng)成為廣泛被使用的研究工具,在生物醫(yī)學(xué)及半
導(dǎo)體檢測居于重要的角色,其相關(guān)的應(yīng)用相當(dāng)多,有關(guān)共焦顯微鏡的研究
及應(yīng)用在國外方面過去很早就已經(jīng)展開了,
1982年英國的D.K.Hamilton與T.Wilson顯微術(shù)的表面三維測量技術(shù);該技術(shù)
是以共焦顯微鏡術(shù)的縱向反應(yīng)曲線極大值,也就是焦平面的位置作基準(zhǔn),
在掃描樣本表面時,移動樣本的高度使共焦訊號堡值在極大值,由樣本的
移動量就可得知其表面高度的變化。現(xiàn)今仍有不少科學(xué)家在為共焦顯
微術(shù)找尋新的應(yīng)用方向及提升共焦顯微術(shù)的性能,如結(jié)合鎖相式干涉技術(shù)
(phase-locked展而成的共焦顯微術(shù),已經(jīng)可達(dá)到奈米級的縱向解析率;近年來對發(fā)表了基于共焦interferometry)
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