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正文:

原子力顯微鏡的分類，原子力顯微鏡原理？

‧接觸式 (Contact AFM)
‧非接觸式 (Non-Contact AFM)
‧間歇接觸式 (Intermittent-Contact AFM)

接觸式AFM
在接觸式操作下，探針與樣品問的作用力是原子間的排
斥力，這是最早被發(fā)展出來的操作模式，由于排斥力對
距離非常敏感，所以接觸式AFM較容易得到原子解析
度。在一般的接觸式量測中，探針與樣品問的作用力
很小，約為10-6至10-10N（Newton），但由于接觸面
積極小，因此過大的作用力仍會(huì)損壞樣品表面，但較大
的的作用力通�？傻玫捷^佳的解析度。

‧在接觸式操作下，探針與樣品問的作用力是原子間的排斥力，這是最早被發(fā)展出來的操作模式，由于
排斥力對距離非常敏感，所以接觸式AFM較容易得到原子解析度。在一般的接觸式量測中，探針與樣
品問的作用力很小，約為10-6至10-10N（Newton），但由于接觸面積極小，因此過大的作用力仍會(huì)損壞樣品表面，
但較大的的作用力通�？傻玫捷^佳的解析度。
‧選擇適當(dāng)?shù)牡淖饔?#63882;，接觸式的操作模式是十分重要的。接觸式的AFM利用探針和樣品原子間的排斥
力（repulsive force），原子力間的排斥力對距離的變化是非常敏感。是利用具有懸臂的探針接觸
且輕壓表面，由于反作用力使得探針的懸臂產(chǎn)生偏折，而偏折量的大小代表反作用力的大小，所以掃
描表面時(shí)利用維持相同的偏折量就可以描繪出3D的表面結(jié)構(gòu)　。

原子間作用力
有幾種典型的力量會(huì)造成原子力顯微鏡懸
臂的歪斜，最普遍的是凡得瓦力（van derWaals force），其它還有如electrostatic,
magnetic force, thermal gradients, and
optical intensity, ….

原子間凡得瓦力和距離關(guān)係

恆定－高度或恆定－力量

接觸式原子力顯微鏡

‧接觸式AFM是一個(gè)排斥性的模式，探針尖端和樣品之間做柔軟性的「實(shí)際接觸」，
當(dāng)探針尖端輕輕的掃過樣品表面時(shí)，接觸的力量引起懸臂彎曲，進(jìn)而得到樣品的表
面圖形。

‧由于是接觸式掃瞄，在掃瞄樣品時(shí)可能會(huì)使樣品表面變形。
‧經(jīng)過多次掃描后，探針或者樣品有鈍化的現(xiàn)象。

非接觸式原子力顯微鏡
‧需要使用較堅(jiān)硬的懸臂（以防與樣品接觸）
‧所得到的信號很小，需要更靈敏的裝置
‧由于為非接觸狀態(tài)，
‧對于研究柔軟或有彈性樣品較佳
‧探針不會(huì)有鈍化的效應(yīng)
‧誤判的現(xiàn)象

間歇接觸式原子力顯微鏡
‧類似非接觸式AFM
‧比非接觸式更靠近樣品表面
‧探針有時(shí)會(huì)擊中，或輕打樣品表面
‧損害樣品的可能性比接觸式少（不用側(cè)面力, 摩擦或拖曳）
‧樣品表面起伏較大的大型掃描比非接觸式更有效

出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科