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標(biāo)題：簡(jiǎn)單介紹工件輪廓測(cè)定的原理-鑄模設(shè)計(jì)測(cè)量顯微鏡

信息分類(lèi):站內(nèi)新聞　　 作者:yiyi發(fā)布　　 時(shí)間:2012-11-16 13:52:36 將本頁(yè)加入收藏

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正文:

簡(jiǎn)單介紹工件輪廓測(cè)定的原理-鑄模設(shè)計(jì)測(cè)量顯微鏡

　　輪廓一般皆是指工件二度空間下的斷面狀況,但也有三度空間輪廓量測(cè)的要求,二度空間輪廓量測(cè)較易處理,

至于工業(yè)界做三次元外形的檢測(cè)工作,

如生產(chǎn)線(xiàn)上的品質(zhì)管制或制造工廠(chǎng)的鑄模設(shè)計(jì)等。目前常用之方法系使用三次元座標(biāo)量測(cè)儀,它使用探針頭以點(diǎn)對(duì)點(diǎn)或靠模的方式掃描整個(gè)物體,再經(jīng)由電腦的數(shù)據(jù)處理而得到物體外形。由于是接觸性的檢驗(yàn),因此很容易破壞物體表面或探針頭。

另有光學(xué)之方法系利用光之干涉及投射作用產(chǎn)生之條紋,來(lái)推算物體外形輪廓之變化。它們通常具有良好的解析度,但實(shí)際操作時(shí)對(duì)環(huán)境(如振動(dòng)、雜光......等)要求甚為嚴(yán)格,至于條紋之分析現(xiàn)皆由電腦代勞,最后可得物體表面等高線(xiàn)之資料。

光學(xué)之方法測(cè)量物體外形輪廓之變化

物體表面等高線(xiàn)即物體外圍與空間某些平行平面相交之交線(xiàn),每條條紋均代表距一固定平面等距的物體表面上各點(diǎn)的軌跡。

基本上此等高線(xiàn)可顯示物體的外形輪廓變化狀況。亦可達(dá)成下列目的:

1.物品外形輪廓檢驗(yàn)。

2.物體表面變形的量度。

3.記錄物體輪廓在長(zhǎng)期使用下逐漸變化效應(yīng)。

測(cè)量?jī)x器產(chǎn)品列表：
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