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正文:
掃描電容
顯微鏡(Scanning Capacitance Microscope:SCM)是掃描探針顯微技術(shù)代表性儀器之一,
具有對映出樣品內(nèi)隱含的載子濃度或摻雜濃度的二維分佈對比影像。其基本原理系利用探針與樣品間所形成的等效電容是Cair、Cox和Cd的串聯(lián),
而Cair為空氣隙縫所形成的電容量,Cox是厚度為tox的氧化絕緣體所形成電容量,Cd是厚度為td的半導(dǎo)體空乏層所形成的電容量,
進(jìn)而量測半導(dǎo)體內(nèi)部空乏層的電容量,與最接近探針尖端的局部材料表面摻雜濃度有關(guān)。
掃描電容顯微儀藉由偵測dC/dV的變量以對映出樣品內(nèi)隱含的載千濃度(carrier concentration)或摻雜濃度(doped concentration)的二維分佈對比影像,
可應(yīng)用于MOSFETs、diodes或laser-structures等的檢測。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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