標(biāo)題：直線、平面、圖 、與圓柱測(cè)量專用萬(wàn)能工具顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-1-20 19:55:03
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正文:
標(biāo)準(zhǔn)幾何型態(tài)與幾何公差 ˉ幾何特征元件中屬于一般標(biāo)準(zhǔn)型態(tài)
可分成直線、平面、圖 、 與圓柱等'這些標(biāo)準(zhǔn)型態(tài)可利用量測(cè)物體與量測(cè)資料以決定幾何形態(tài)的相關(guān)參數(shù)陶
' 其中直線與圓等幾何形態(tài)的形態(tài)變數(shù)為一個(gè) ' 而平面與圓柱等幾何形態(tài)的形態(tài)變數(shù)為兩個(gè)幾何公
差可以式子 (l〉 的通式表示之'其中三屾為最大外形誤差， 三咖為最小外形誤差
采用其配適后的量測(cè)點(diǎn)數(shù)與量測(cè)點(diǎn)位置分佈 ， 在此依照
三個(gè)部分進(jìn)行探討 ' 第一部份為量測(cè)路徑模式建構(gòu)' 建構(gòu)并提出一個(gè)最小化的量測(cè)
路徑數(shù)學(xué)模式
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/3867.html
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