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正文:
陷大小及數(shù)目變化,并利用微刻度平臺計算缺陷數(shù)目
(1)第一階段:利用低倍光學(xué)顯微鏡觀察 TiO2 凝膠薄膜表面,觀察表面空洞(void)的位
置及數(shù)目、大小并注記。
(2)第二階段:將注記下位置之 TiO2 凝膠薄膜以電子掃描式顯微鏡拍照,顯像后以 V.D.E.
(3)第三階段:將退火前、后之不同 TiO2 凝膠薄膜以上述兩階段(第一、二階段)方法比
較品質(zhì)之差別,并有規(guī)律地將退火溫度高低、退火時間長短因素加
入,加以分析規(guī)納與孔洞變化之關(guān)系。
7. 將 4. 5.及 6.之實驗加以統(tǒng)合,分析規(guī)納 TiO2 凝膠薄膜在退火前后溫度高低、時間長短
對孔洞變化、照光電流大小及衰退效應(yīng)之影響。
8. 建立一套 TiO2 太陽電池標準退火制程(含退火時間及退火溫度)以供后續(xù)實驗參考
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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