標題：穿透式電子顯微鏡是金屬觀察解析度較高的儀器
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-3-30 20:36:57
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正文:
穿透式電子顯微鏡是解析度較高的儀器
生成物層的厚度會隨反應時間增長而增厚，而增厚的速度則跟反應的溫度有關
為擴散偶在 480℃下經(jīng)不同反應時間界面生成物生長情形之BEI圖
明顯看出隨著時間增加，界面生成物層的厚度會迅速地增厚，
且介金屬兩側(cè)的界面皆呈現(xiàn)平面型態(tài)。擴散偶在反應溫度 450、430
與 400℃之界面生成物的生長情形亦類似于在 480℃反應后的界面型態(tài)，
如,但在相同反應時間條件下，界面生成物的厚度會隨溫度的降低而減薄
為穩(wěn)定相的MgNi2并未被觀察到，其可能原因可分為
MgNi2有生成與未生成兩部分來討論。假定在界面反應中MgNi2有生成，未
觀察到此相的存在乃是因其量太少或是厚度太薄，而侷限于分析儀器之極
限而未能偵測到，此種儀器解析度所造成無發(fā)觀察到此相的原因，理論上
可以使用解析度較高的儀器如穿透式電子顯微鏡(TEM)來判別
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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