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標(biāo)題：金相試片研磨儀廠商-TEM電子顯微鏡試片制備的方法

信息分類:站內(nèi)新聞　　 作者:yiyi發(fā)布　　 時(shí)間:2013-4-8 15:14:50 將本頁(yè)加入收藏

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正文:

金相試片研磨儀廠商-TEM電子顯微鏡試片制備的方法

聚焦離子束顯微切割儀電鏡試片制備法： 

(a)將適當(dāng)大小，約1×2.5mm 之試片，先以機(jī)械研磨方式將試片研磨并拋光至    50~60μm厚度。

    以AB 膠固定于半圓形之銅環(huán)上。 

(b)將固定于銅環(huán)上之試片放入聚焦離子束顯微切割儀內(nèi)，定義出欲觀察之區(qū)域，而后鍍上保護(hù)層Pt 

(c)利用聚焦離子束在欲觀察區(qū)域樣品兩旁，將不必要之區(qū)域切割掉。直到研磨剩下中間欲觀察區(qū)域至厚度約100nm左右。

3. 粉末、纖維之TEM試片制備法： 

將粉末或是纖維溶于酒精。

經(jīng)過(guò)超音波震盪器作充分?jǐn)嚢琛?/div>

利用滴管將混和溶液滴在有碳膜之銅環(huán)上。

將試片置于真空抽氣箱內(nèi)等其乾燥后，即可作TEM 分析。

出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科

特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4135.html 　
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