標(biāo)題：土壤分析儀器及粒徑量測(cè)礦相顯微鏡廠家
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-5-16 23:17:32
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正文:
地質(zhì)特征儀器及粒徑分析礦相顯微鏡廠家
何謂“潤(rùn)濕曲線”(wetting curve)？
解 答：當(dāng)土壤孔隙再次被水入侵時(shí)，其水飽和度隨毛細(xì)壓力上
升(或毛細(xì)吸力降低)而增加之曲線變化稱之為“潤(rùn)濕曲線”
于地下水領(lǐng)域，地質(zhì)調(diào)查一般常用方法有哪四種？哪種可達(dá)到即
時(shí)且不擾動(dòng)的調(diào)查目的？哪種設(shè)備簡(jiǎn)單，執(zhí)行容易？
解 答：地質(zhì)調(diào)查一般常用方法有四種：鉆探物性分析、直接灌
入技術(shù)即時(shí)調(diào)查、微水試驗(yàn)、地球物理探勘。直接灌入
技術(shù)即時(shí)調(diào)查可達(dá)到即時(shí)且不擾動(dòng)的調(diào)查目的；微水試
驗(yàn)設(shè)備簡(jiǎn)單，執(zhí)行容易
試述鉆探取樣過程，并將土樣進(jìn)行那些物性分析？
解答：一般在設(shè)井過程中，于不同深度均以薄管或劈管進(jìn)行土
壤采樣，并將樣品送專業(yè)合格之土壤技術(shù)顧問公司進(jìn)行
一般物理性質(zhì)試驗(yàn)(瞭解土壤分類、粒徑分析、孔隙比、
單位重、比重、自然含水量、液性限度及塑性指數(shù)等)。
鉆探過程遭遇礫石層時(shí)則可依實(shí)際情況采集適當(dāng)土樣供
現(xiàn)地工程師研判或?qū)嶒?yàn)室分析。
鉆探資料應(yīng)由專業(yè)水文地質(zhì)師或工程師現(xiàn)場(chǎng)紀(jì)錄并描述其地質(zhì)特性與特征
何謂直接灌入技術(shù)(direct push technology，DPT)即時(shí)調(diào)查，簡(jiǎn)述
之。
解答：直接貫入技術(shù)(direct push technology，DPT)合適于地質(zhì)材
料屬砂質(zhì)、粉砂之地下環(huán)境特征調(diào)查(不適用礫石地層或
較堅(jiān)硬地層環(huán)境)，以鉆入、推進(jìn)或震動(dòng)方式將內(nèi)附采樣
器材之中空不銹鋼鉆桿貫入地層以快速采集代表性土
壤、地下水樣品，并達(dá)到即時(shí)且不擾動(dòng)的調(diào)查目的；或
配置即時(shí)分析(real - time analysis)工具于現(xiàn)場(chǎng)取得大量篩
選數(shù)據(jù)(screening data)，作為污染場(chǎng)址后續(xù)擬訂相關(guān)調(diào)查
評(píng)估或整治方案之參考。DPT 特殊井測(cè)儀器多于地表下
之鉆孔內(nèi)進(jìn)行即時(shí)偵測(cè)，故又稱為孔內(nèi)分析技術(shù)
(downhole analytical technology)，可利用作為污染場(chǎng)址現(xiàn)
場(chǎng)采樣調(diào)查之輔助性篩選工具，一般搭配不同探測(cè)工具
組成不同探測(cè)技術(shù)，藉由量測(cè)地層環(huán)境之相關(guān)物理性
質(zhì)，如利用地質(zhì)導(dǎo)電度等，來偵測(cè)描繪地層結(jié)構(gòu)、地下
水流動(dòng)及地下水位深度等，以瞭解地下組成物隨深度分佈情形
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4273.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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