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正文:
近場光學(xué)
顯微鏡光學(xué)解析力提升至數(shù)十納米
(scanning near-field opticalmicroscope, SNOM) 結(jié)合了AFM 探針表面探測的技術(shù),
此技術(shù)首先須將AFM 探針在前端部分制作出一極微小的奈米孔徑,
再將雷射光源耦合進(jìn)此一微小孔徑內(nèi),在尖端形成一奈米亮點。利用 AFM
探針掃描技術(shù)將此一奈米亮點保持在其近場光的范
圍內(nèi),而此范圍遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于入射光波長,
利用此一技術(shù),光學(xué)解析力便可突破繞射極限,提升至數(shù)十奈米。
近場光學(xué)顯微鏡的發(fā)展,對于研究薄膜表面形態(tài)的光學(xué)性質(zhì)有非常大的助益。
紹共聚焦拉曼光譜(confocal Raman spectrum),
共聚焦拉曼光譜主要是將雷射光透過物鏡聚焦至試片上,
再收集反射所得到的拉曼訊號至偵測器來得知試片的拉曼光譜及表面形態(tài)。相較于傳統(tǒng)拉曼光
譜,共聚焦拉曼光譜利用聚焦孔徑來過濾非聚焦范圍內(nèi)的拉曼散射訊號,大大提升其拉曼光譜解析
度,對于微小區(qū)域下的光譜分析,提供了非常重要的資訊
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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