標(biāo)題：CCD成像裝置光源的選擇-顯微檢測顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-7-9 0:52:49
將本頁加入收藏
下一篇：高級鑄鐵特征-分析鑄鐵微觀特征金相顯微鏡
上一篇：精密電子天平的使用步驟-光學(xué)分析儀器
點擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報價--丨--
---
---
---
正文:
CCD成像裝置光源的選擇-顯微檢測顯微鏡
光源選擇
鋼珠拍攝時在光源選擇相當(dāng)重要，因鋼珠的表面反光會導(dǎo)致拍攝的檢測影像不完整，
如果待測物的取像不完整便無法繼續(xù)進行瑕疵檢測，
搭配不同顏色的環(huán)型光源來進行拍攝，
期望能夠找出一種光源顏色使反光降到最低，并能拍攝到完整的鋼珠影像。
凹陷瑕疵:
拍攝鋼珠之環(huán)境設(shè)置
利用彩色攝影機CCD拍攝鋼珠之瑕疵影像，以分析瑕疵區(qū)域資訊，其大小為256 X 256像素。
要建構(gòu)一個符合需求的自動化檢測系統(tǒng)，首要的工作便是建立一個有效的光源環(huán)境，
因為影像的拍攝與周圍光源的配置有極大的關(guān)系。一個良好的光源配置會將物件的陰影降至最小，
而物件的反光程度也會降至最低。目前所提出的光源配置方法各有其用途整理如下：
1.檢測表面缺陷程度：背光法、直射光法、垂直光法、雙直射光法。
2.檢測邊緣的垂直度：濾波光法。
3.檢測球狀體的厚度：散射光法。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4443.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商