標(biāo)題：高解析TEM電子顯微鏡觀察金屬表面分布與形貌
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-7-25 22:44:19
將本頁加入收藏
下一篇：納米結(jié)構(gòu)觀察需要電子掃描顯微鏡可看清
上一篇：觀察玉石的精細(xì)結(jié)構(gòu)合適使用體視顯微鏡
點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--
---
---
---
正文:
當(dāng)樣品原子內(nèi)層軌道的電子受到入射的高能電子激發(fā)而脫離，留下電洞(hole)存在，較高能的外層軌道的電子會(huì)有極高的機(jī)率填補(bǔ)電洞的位置，
并且釋放X射線，。不同元素X射線的能量也不盡相同，所以由元素的特征X射線能量，可分辨樣品的組成。
一般來說，EDS分析元素的分辨率約小于1 %。TEM廣泛應(yīng)用于觀測納米材料的形貌與分析材料的晶格結(jié)構(gòu)，
如直接度量納米線之長度與寬度，及觀察納米顆粒的形貌與晶格
在高解析TEM下的分布與形貌。當(dāng)放大倍率較低時(shí)，可統(tǒng)計(jì)納米金顆粒粒徑之分布情形。提高放大倍率，
進(jìn)一步可觀察到納米顆粒之形貌非為正圓形，而為有稜有角的形狀。納米科技現(xiàn)今為炙手可熱的科學(xué)研究主題之一，
然而其原理大多架構(gòu)于基礎(chǔ)物理與量子力學(xué)之上。想象一臺(tái)穿透式電子顯微鏡在你面前，在其中運(yùn)作的電子，
可是過著相對(duì)論性的生活（光速行進(jìn)），利用波的性質(zhì)將納米尺度的影像呈現(xiàn)在我們面前
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4499.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商