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標(biāo)題：硅芯片試樣檢測(cè)實(shí)驗(yàn)顯微鏡- 硅晶片表面粗糙度

信息分類:站內(nèi)新聞　　 作者:yiyi發(fā)布　　 時(shí)間:2013-10-26 0:01:31 將本頁(yè)加入收藏

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正文:

硅芯片試樣檢測(cè)實(shí)驗(yàn)顯微鏡- 硅晶片表面粗糙度

碳、硅含量皆太高時(shí)

若碳、硅含量皆高于目標(biāo)值時(shí)，通常加入廢鋼料，以降低碳、硅含量。

范例：

現(xiàn)有一爐 2 噸鐵水，其目標(biāo)成份為：碳 3.6％，硅 1.8％。目前經(jīng)碳當(dāng)量測(cè)

定儀測(cè)得其成份為：碳 3.8％，硅 2.0％，請(qǐng)問(wèn)要再加入多少?gòu)U鋼，才能符合目

標(biāo)值（廢鋼之含碳量為 0.2％）。

解答：

(一)因廢鋼中不含硅量，故可從目標(biāo)之硅量著手，進(jìn)而計(jì)算出加入之廢鋼

量。假設(shè)欲達(dá)目標(biāo)硅量，所需之總鐵水量為 Xkg，則

X×1.8％＝2000×2.0％ （因硅量不因廢鋼加入而增加）

➾X＝2000×2.0％ ÷1.8％

≒2222kg

即尚須加入 2222kg-2000kg=222kg 之廢鋼，方能符合硅之目標(biāo)值。

(二)現(xiàn)在，若加入廢鋼 222kg 時(shí)，硅量可達(dá)目標(biāo)值，但碳含量卻不知是否

符合目標(biāo)值，因此，必須加以計(jì)算。

(1)目前爐內(nèi)之碳量為：

2000kg×3.8％=76kg …………(1)

若加入廢鋼 222kg 于電爐內(nèi)時(shí)，其碳量為：（廢鋼之碳含量為 0.2％）

76kg+222×0.2％=76.444kg…………(2)

因此，加入廢鋼后之碳含量將變?yōu)?/div>

(76.444/2222)×100％≒3.44％…………(3)

所以由(3)式知加入廢鋼后，碳含量反而低于目標(biāo)值，因此，必須再加

入加碳劑調(diào)整之。（依 40 頁(yè)之范例計(jì)算之）

2222kg/爐×（3.6–3.44）％≒35.5kg

35.5kg÷90％≒39.4kg

(三)經(jīng)由上述計(jì)算結(jié)果，必須加入廢鋼 222kg 及加碳劑 39.4kg，方能調(diào)整

鐵水成份于目標(biāo)值內(nèi)

出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科

特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4830.html 　
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