標(biāo)題：光學(xué)顯微鏡圖像分析有哪些特點-顆粒測量
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-12-12 20:38:47
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正文:
在討論這些問題時必須牢記貫穿構(gòu)成顯微組織三維空間的
平截面的特性和局限性。
在一個由相同尺寸的球任意占有的體積中，任意一個平截面
都可給出截斷的球的圓跡線。這些圓的直徑從小到不能測出
直至大到某個最大值，因此球的直徑不能直接表示出來，
因為大多數(shù)截面上的跡線并不表示球的真實直徑。此外，
為了得到這個最大值，顯然必須取大量的直徑測量值。
通過在平截面上進行觀察和側(cè)量去測定在空間作隨機分布
的相同尺寸球的直徑一般是不難的，
因為我們已預(yù)先知道其形狀和尺寸都相等。但是，自然界
為我們提供這樣理想化的組織的機會是很少的，
我們又如何知道顆粒的尺寸實際上是相等的呢 如果它們不
相等，那么如何估算其平均尺寸值以及尺寸分布呢?
對于非球狀順粒也存在類似的問題。顯然，
分布相呈片狀和棒狀的可能性比呈球狀的更大
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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