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正文:
光學(xué)
顯微鏡下鉆取樣品的方法-
金相檢驗儀器
在顯微鏡下鉆取樣品的方法
在金相檢驗工作中,有時需要把在顯微鏡下觀察到的某一未
知相或夾雜物從金相試樣上取下來,以便做進一步的研究。
如果在上海光學(xué)儀器一廠小型
金相顯微鏡上安裝上附加配件后,
就可以在顯微鏡下直接鉆取所需要的試樣,其設(shè)備及具體做法如下:
鉆頭和物鏡套
用Ø 0.-1mm的彈簧鋼絲經(jīng)退火后彎成螺旋形,一端為鉆尖,
垂直向下,另一端為鉆柄,垂直向上。彎成后把鉆尖一端及中部
淬火后回火。然后在小砂輪上把鉆尖磨成三棱錐形,磨光后即成
選用該顯微鏡的一個15倍物鏡與30倍目鏡配合,可放大到
450倍,物鏡與試樣拋光面的工作距離約6mm,
上述鉆頭即置于此工作距離的空間中。顯然此工作距離若較大,
對放置鉆頭和觀察都較為有利。
物鏡套的作用在于固定鉆頭柄。鉆柄的固定方法可根據(jù)具體
情況而定,也不一定要有物鏡套。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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