標(biāo)題：利用顯微鏡上的偏光或DIC附件觀察不同厚度的膜層
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-1-6 21:08:09
將本頁加入收藏
下一篇：光譜儀和紫外分光計(jì)的原理-光學(xué)儀器常識
上一篇：礦相學(xué)研究偏光顯微鏡可在反射光和透射光下使用
點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價--丨--
---
---
---
正文:
利用顯微鏡上的偏光或DIC附件觀察不同厚度的膜層
拋光的鋅合金試樣經(jīng)浸蝕后，由于顯微組織中各個品粒間
被觀察面高低差較小，色差弱、襯度低，對光的反射能力比較強(qiáng)，
對光的明顯選擇性吸收不明顯。因此，在顯微鏡下晶內(nèi)亞品、孿
晶、滑移線等方面顯微特征不能充分反映出來。
為此，利用電化學(xué)原理進(jìn)行化學(xué)覆膜處理，使不同位向晶粒和亞晶、
孿晶等細(xì)節(jié)都得到不同厚度的膜層，利用顯微鏡上的偏光或DIC附件，
能顯示出不同的干涉色。不同相、結(jié)構(gòu)特征和晶粒都能得到明顯的彩
色特征的顯示。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5105.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商