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正文:
再結(jié)晶的
金相檢測(cè)用專業(yè)圖像分析
顯微鏡
再結(jié)晶的檢測(cè)
盡管通過(guò)工藝控制可以在一定程度上使定向凝固和單晶高溫合金
的再結(jié)晶得到消除,但在批量生產(chǎn)葉片的過(guò)程中,不可避免地存在
導(dǎo)致葉片局部塑性變形而在高溫下導(dǎo)致再結(jié)晶的可能性,
因此,必須對(duì)定向凝固和單晶高溫合金的再結(jié)晶進(jìn)行檢測(cè)和控制。
目前,定向凝固和單晶高溫合金的再結(jié)晶檢測(cè)主要采用金相檢測(cè)和
X射線衍射檢測(cè)法。
目前,國(guó)內(nèi)對(duì)土程應(yīng)用條件下定向凝固與單晶高溫合金的
再結(jié)晶無(wú)損檢測(cè)方面的研究基本上還屬于空白。
再結(jié)晶的無(wú)損檢測(cè)與評(píng)定方法,不僅對(duì)于定向凝固與單晶高溫合金在制造、
裝配使用與維修等過(guò)程中再結(jié)晶的控制提供參考依據(jù),
而且對(duì)提高定向凝固與單晶高溫合金的安全使用可靠性具有重要意義,
因此,再結(jié)晶的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)是一個(gè)很有價(jià)值的研究領(lǐng)域。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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