標(biāo)題：應(yīng)用于鑄件缺陷無(wú)損檢測(cè)設(shè)備都有哪些-金相顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-3-18 13:32:14
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應(yīng)用于鑄件缺陷無(wú)損檢測(cè)設(shè)備都有哪些-金相顯微鏡
無(wú)損檢測(cè)設(shè)備主要用來(lái)對(duì)鑄件內(nèi)部或外部缺陷進(jìn)行檢測(cè)，是保證
鑄件質(zhì)量的爪要手段。通常，超聲波檢側(cè)設(shè)備和射線檢測(cè)設(shè)備只適于
鑄件深層缺陷的檢驗(yàn)，而磁粉檢測(cè)設(shè)備和滲透檢測(cè)設(shè)備最容易發(fā)現(xiàn)鑄
件近表面及表面缺陷，在選用時(shí)應(yīng)考慮以下因素：
①應(yīng)與鑄造企業(yè)的生產(chǎn)綱領(lǐng)、鑄件種類和質(zhì)量要求相匹配。通常，
對(duì)于生產(chǎn)綱領(lǐng)大、鑄件品種多而復(fù)雜、質(zhì)量要求高的鑄造企業(yè)，其多
數(shù)鑄件都要進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，因此無(wú)損檢測(cè)設(shè)備的配置應(yīng)齊全，甚至還
需要配置直線加速器等貴重的設(shè)備。
而一般鑄造企業(yè)只需配置與鑄件產(chǎn)品相適應(yīng)的普通檢測(cè)設(shè)備。
②根據(jù)鑄件技術(shù)要求及標(biāo)準(zhǔn)選用相應(yīng)的無(wú)損檢測(cè)設(shè)備，對(duì)不要檢
測(cè)的鑄件可不選用無(wú)損檢測(cè)設(shè)備。
③根據(jù)不同鑄件材料及缺陷部位選用無(wú)損檢測(cè)設(shè)備。通常，射線
檢測(cè)設(shè)備和超聲檢測(cè)設(shè)備適用于深層缺陷的檢驗(yàn)，且射線檢測(cè)設(shè)備效
果好；磁粉檢測(cè)設(shè)備和滲透檢測(cè)設(shè)備可發(fā)現(xiàn)鑄件近表面缺陷，但磁粉
檢測(cè)設(shè)備只適用于鐵磁性材料的鑄件，而滲透檢測(cè)設(shè)備既適用于鐵磁
性材料的鑄件，又適用于非鐵磁性材料的鑄件。
④視鑄件大小、形狀、批最和使用場(chǎng)所選用無(wú)損檢測(cè)設(shè)備。通常，
移動(dòng)式和攜帶式無(wú)損檢測(cè)設(shè)備多用于大型鑄件現(xiàn)場(chǎng)，而固定式無(wú)損檢
測(cè)設(shè)備一般放在試驗(yàn)室用于中小型鑄件槍側(cè)。此外，對(duì)于形狀復(fù)雜的
鑄件進(jìn)行表面探傷時(shí)，磁力檢測(cè)設(shè)備不如滲透檢測(cè)設(shè)備好；對(duì)于大批
最的鑄件則應(yīng)采用自動(dòng)化、機(jī)械化程度高的檢測(cè)設(shè)備。
⑤要懊重選用貴重?zé)o損檢測(cè)設(shè)備，對(duì)于射線檢測(cè)設(shè)備要按法規(guī)要
求配備防射線的安全防護(hù)設(shè)施。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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