標(biāo)題：光學(xué)顯微鏡法的粒度測(cè)量范圍是0.8~150 微米
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-3-30 23:33:17
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正文:
在正常情況下，人眼的分辨能力是0.2 毫米，小于0.2 毫米的順
粒，必須借助于光學(xué)儀器如放大鏡、光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡等，才
有可能進(jìn)行粒度測(cè)量和外表形態(tài)觀察。
但在實(shí)際應(yīng)用上，光學(xué)顯微鏡法的粒度測(cè)量范圍是0.8~150 微米 ，
再小的顆粒唯有用電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡等方法測(cè)量。光學(xué)顯
微鏡是一般材料實(shí)驗(yàn)室的通用設(shè)備，雖然用來(lái)測(cè)量粒度，由于計(jì)量顆
粒數(shù)目有限，粒度數(shù)據(jù)往往缺乏代表性，但是它是唯一的對(duì)單個(gè)顆粒
進(jìn)行測(cè)量的粒度分析方法，方法比較直觀，因此經(jīng)常用它來(lái)標(biāo)定其他
粒度分析方法。并且，顯微鏡法還可研究顆粒外表形態(tài)，光學(xué)顯微鏡
的價(jià)格比起顆粒自動(dòng)計(jì)數(shù)設(shè)備（包括沉降天平）又要便宜些，所以到
目前為止，此法仍不失為粒度分析的基本方法之一。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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