標(biāo)題：電路板檢驗用光學(xué)顯微鏡-帶計量分析軟件
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-6-3 15:01:56
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正文:
電路板檢驗用光學(xué)顯微鏡-帶計量分析軟件
大多數(shù)制造商都習(xí)慣于依靠最終試驗來發(fā)現(xiàn)制造缺陷。他們已從無
數(shù)次教訓(xùn)中領(lǐng)悟到; 增加中間( 電路板級) 電氣側(cè)試、篩選和檢驗成為
制造工藝不斷完善過程的一部分。故障分析能在測試類型、檢驗或所用
篩選方式、所需持續(xù)時間或分辨率以及在生產(chǎn)過程中的位置方面提供寶
貴的反饋信息。
對整體可靠性方案的優(yōu)化將有效地搜蓋元件和組件的故障范圍，同
時防止檢側(cè)范圍擴大化，最大限度地實現(xiàn)最終成本的節(jié)約。希望這里介
紹的入門性材料能對故障分析人員了解這一重要的反饋有所幫助。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5693.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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