標題：斷口試樣表面粗糙度檢測用金相顯微鏡制造廠商
信息分類:站內新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-6-21 15:15:07
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正文:
首先，斷口表面一般都是粗糙不平的，將試樣放在載物臺上時，應設法使試
樣的平均平面和載物臺的平面(Xm-ym平面)平行，這樣，就可以觀察到盡可能多
的清晰試樣表面。斷口表面粗糙不平也就意味著，隨著物鏡的不同，尤其是透鏡
數值孔徑的不同，可能只有一小部分的試樣是清晰聚焦的。在實際操作中，更重
要的是，隨著物鏡放大倍數的增長，透鏡和試樣表面之間的工作距離不斷減小。
當使用很大倍數的物鏡時，由于粗糙度的尺度超過了可用的工作距離，顯微鏡只
能看到試樣表面非常小的區(qū)域,甚至可能在顯微鏡聚焦之前，透鏡的
下半部分就已經碰到了試樣。盡管有些特殊的透鏡具有更長的工作距離，可以解
決這個問題，但它們的價格比普通透鏡昂貴得多。
其次，斷口表面的形貌隨著位置的變化而不同。要想確定樣品上所檢查區(qū)
域的位置，還需要對Xg , Yg , Zg三個軸(g代表機械載荷體系(mechanical loading
system)的幾何外形)，Xs , Ys , Zs (s代表試樣)三個軸與Xm , Ym , Zm三個軸之間
的關系以及它們和斷口表面之間的關系有更多的了解。在做斷口顯微分析時，
這一點時常被忽視，有些時候，這一點確實不那么重要，但有時候卻又是至關
重要的。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科