標(biāo)題：集成電路檢測(cè)用工具顯微鏡的價(jià)格和型號(hào)
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-7-26 15:02:28
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集成電路檢測(cè)用工具顯微鏡的價(jià)格和型號(hào)
集成電路誕生于20世紀(jì)60年代，爾后迅速發(fā)展。到80年代
已經(jīng)進(jìn)人超大規(guī)模集成電路時(shí)代。在VLSI研制過程中，同時(shí)包含
元器件、線路甚至整機(jī)和系統(tǒng)的設(shè)計(jì)問題，突破了整機(jī)、線路和元
器件間的明顯區(qū)別，在“半導(dǎo)體物理與器件”的基礎(chǔ)上形成了一門
涉及固體物理、器件和電子學(xué)三個(gè)領(lǐng)域的新學(xué)科—微電子學(xué)。微
電子學(xué)研究的中心問題主要是集成電路與芯片的設(shè)計(jì)和制造。
在電子學(xué)發(fā)展歷程中，一個(gè)主要趨勢(shì)是不斷縮小電路各元件
的尺寸，即硬件小型化，使元件達(dá)到小型或微小型。集成電路將若
干電路元件不可分割地聯(lián)在一起并且在電學(xué)上互連，在規(guī)范特性、
試驗(yàn)和維護(hù)等方面認(rèn)為是不可分割的完整單元。通過集成電路技
術(shù)，以前的分立元件，例如晶體管和導(dǎo)線等，都能在硅晶片內(nèi)整體
互聯(lián)，而其它傳統(tǒng)元件基本都可以由晶體管構(gòu)成。同分離元件組成
的設(shè)備相比，集成電路電子設(shè)備體積更小、重最更輕、耗電更省、價(jià)
格更低、可靠性更高。微電子技術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于各種電子系統(tǒng)
中，并且使工業(yè)電子學(xué)、醫(yī)用儀器設(shè)備、消費(fèi)電子學(xué)等領(lǐng)域發(fā)生了
根本性變革，為信息革命的到來莫定了基礎(chǔ)。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5875.html
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