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標(biāo)題：微觀組織結(jié)構(gòu)與原鑄態(tài)基體樣品差別分析圖像顯微鏡

信息分類:站內(nèi)新聞　　 作者:yiyi發(fā)布　　 時(shí)間:2014-7-28 0:16:58 將本頁(yè)加入收藏

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正文:

微觀組織結(jié)構(gòu)與原鑄態(tài)基體樣品差別分析圖像顯微鏡

    對(duì)定向凝固葉片和單晶葉片材料再結(jié)晶行為的研究表明，再

結(jié)晶層的微觀組織結(jié)構(gòu)與原鑄態(tài)基體存在明顯的差別，這些差異

無(wú)疑會(huì)引起再結(jié)晶區(qū)域?qū)щ娦阅艿淖兓��?/div>

    由于再結(jié)晶層的范圍有時(shí)較小(有時(shí)僅在毫米量級(jí))、深度較

淺(通常在十至百微米量級(jí))，采用常規(guī)的渦流檢測(cè)儀器和技術(shù)幾

乎難以測(cè)量出葉片上的再結(jié)晶的存在和嚴(yán)重程度，這一困難主要

源于常規(guī)檢測(cè)線圈的直徑要比再結(jié)晶區(qū)域大，測(cè)量能力達(dá)不到分

辨出再結(jié)晶區(qū)與原鑄態(tài)基體的電性能差異的水平。針對(duì)葉片再結(jié)

晶形貌與結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)，探索采用渦流方法實(shí)施有效的測(cè)量，應(yīng)在以

下三個(gè)方面開展深人的研究:①再結(jié)晶區(qū)域?qū)щ娦宰兓�程度測(cè)量;

②消除葉片型面變化所產(chǎn)生的影響;③提高渦流檢測(cè)的分辨率。

出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科

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