點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--

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正文:
掃描透射電鏡技術(shù)在應(yīng)用上有兩大缺點(diǎn),第一,樣品必須進(jìn)行離子減薄,所以制樣困
難,有時(shí)很珍貴的礦物樣品往往在離子流的轟擊下被丟失,而不得不中斷對(duì)該樣品的研
究。第二,在鏡下只能對(duì)樣品的很小一個(gè)區(qū)域進(jìn)行觀察,這樣代表性就很差,這就不象在
兩面拋光超薄片中,可以對(duì)很大一塊面積作詳細(xì)研究。然而,在對(duì)礦物中的微細(xì)形變、晶
體缺陷和其它微細(xì)構(gòu)造等作詳細(xì)研究時(shí),掃描透射電子
顯微鏡是唯一的方法。,它也是
研究級(jí)顯微級(jí)礦物和對(duì)這種小礦物包裹體作電子衍射分析的唯一方法。
對(duì)礦物、巖石和礦石成因進(jìn)行的主要實(shí)驗(yàn)研究,包括受控緩沖劑(氧逸度)條件下、熱
液條件下和其它特殊溫度壓力條件范圍下的礦物相平衡研究。每一輪實(shí)驗(yàn)的產(chǎn)物通常都
很小,常常需要用顯微礦物學(xué)技術(shù)來(lái)對(duì)晶質(zhì)相進(jìn)行鑒定,對(duì)淬火后的液相或玻璃作成分分
析。
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北京顯微鏡百科
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