標(biāo)題：試樣的鑲嵌和截取步驟-金屬試樣分析顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-8-18 20:52:47
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正文:
在片子和器件鑲嵌時(shí)常遇到的成型缺陷及其起因是:
(1)由于溫度的不夠使樣品與塑料的濕潤不良.
(2)樣品周圍無光澤的區(qū)域起因于溫度的不足或在合適溫度
下時(shí)間的不足
采取的預(yù)防措施是:
(1)為了將來截取時(shí)容易，在試樣定位時(shí)，要極其小心.
(2)保持樣品清潔和干燥.
(3)如可能的話，除去尖角.
這種鑲裝的不足之處在于過大的壓力可能使試樣碎裂，而且
試樣的定位和把它拋平都是困難的，截取的細(xì)節(jié)見后面.
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5938.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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