標題：分析儀器如金相顯微鏡、掃描電子顯微鏡(SEM)檢測細微結構
信息分類:站內新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-9-19 17:19:39
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正文:
調查報皮工具，特別是引起事故原因，是明確“為什么報廢”的重要一環(huán)。
在返回頭來重新評價使用狀況和工具設計的同時，對工共表面和破斷面的觀察、
重點調資現象與細微組織(塑性流動、碳化物分布)的關系等等都是非常有效的
對策。
借助分析儀器。如金相顯微鏡、掃描電子顯微鏡(SEM),X射線分析(EPMA),
離子微分析((IMA)等使用于調查的話，那一定會得到相當準確的信息和知識。
形貌和顯微組織覆蓋層的結構一它的形貌和顯微組織
乃是其形成條件的反映。條件改變，影響結晶過程，因而也
就影響到覆蓋層的形貌和顯微組織。
氣體介質結晶的過程非常復雜且受許多因素影響。這類
因素有:沉積金屬過飽和蒸氣;在生長著的晶體介面士雜質
原子的吸附，工作介質的成分和壓力，所用的揮發(fā)性化合物
分解時工作介質的轉變類型以及襯底的影響等。在工作介質
放電點燃時，其中大多數因素都可能發(fā)生重大變化，因此有
理由相信，放電中所獲得的覆蓋層應不同于條件相似但不放
電所獲得的覆蓋層的形貌和顯微組織。
我們立刻就可以看到，放電所形成的覆蓋層與未放電所
形成的一樣，并無任何特殊的顯微結構，仍然只觀察到兩種代
表性的組織:具有清晰邊界的柱狀晶粒以及實際上無序分布的晶粒，
后者在覆蓋的表面上形成具有半球狀
“露頭”的大體還明顯的雛晶。在較高的放大率下，可以清晰
的看到放電所得的覆蓋層中，晶粒之間有完整的晶界覆蓋層的
顯微組織明顯地取決于放電功率密度
。在較大的功率密度時，形成具有清晰表面間界且晶粒很粗的
覆蓋層。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科