標(biāo)題：鍍膜顆粒分析顯微鏡-最小可以分析大約0.35m的顆粒
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-9-28 22:22:49
將本頁加入收藏
下一篇：金屬樣品晶粒斷口分析儀器-截面分析金相顯微鏡
上一篇：單顆粒顯微分析主要包括以下步驟:樣品采集、樣品制備
點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--
---
---
---
正文:
鍍膜顆粒分析顯微鏡-最小可以分析大約0.35m的顆粒
對單顆�；瘜W(xué)組成進(jìn)行分析可使用場發(fā)射掃描電子顯微鏡和環(huán)境掃描電子顯
微鏡配帶的薄窗x射線能譜儀。傳統(tǒng)的能量散射x射線檢測器不能用來進(jìn)行小原
子序數(shù)元素的測定，主要是因?yàn)樗鼈兪褂昧薆e窗以保護(hù)半導(dǎo)體檢測器，并因此
而妨礙了小原子序數(shù)元素的探測。而薄窗和無窗x射線探測器，可以半定量單個
顆粒中包括小原子序數(shù)元素在內(nèi)化學(xué)成分，特別是N元素的定性和半定量分析，
這為分析大氣顆粒物中的硝酸鹽提供了方便。進(jìn)行成分分析的一個最大困難是對
干亞微米顆粒成分的獲取。根據(jù)Monte Carlo模擬結(jié)果，電子束的影響范圍為大于
1μm 直徑的球體，所以當(dāng)顆粒非常小時，x射線的信號大部分來自于濾膜基底。
由于亞微米粒子本身成分的信號就非常弱，如果再受濾膜基底和鍍膜的雙重影響，
就難以獲得有效的成分?jǐn)?shù)據(jù)。對于濾膜基底，目前很難控制，必須在鍍膜上下功
夫，保證既能夠看見顆粒，又要盡量避免鍍膜對顆粒成分的影響。這就需要在鍍
膜時間上進(jìn)行嚴(yán)格控制，通過多次摸索，我們確定鍍Au/Pd膜的時間為2min，
這樣最小可以分析大約0.35m的顆粒的成分。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/6080.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商