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正文:
金相樣品的備制方法,比較先進(jìn)的有鉛盤(pán)(或蠟盤(pán))磨光及電
解拋光等。但是由于這些方法需要不少設(shè)備以及操作過(guò)程相當(dāng)復(fù)雜。
例如目前鋼鐵金相試樣的備制,一般采用砂紙磨光,并經(jīng)過(guò)
拋光而成,相當(dāng)費(fèi)時(shí),有時(shí)不能滿(mǎn)足生產(chǎn)上的要求。例如為了保
證零件滲碳的深度,在預(yù)計(jì)的滲碳時(shí)間到達(dá)之前,要抽查試棒,
然后根據(jù)試棒的滲碳深度決定是否馬上出爐,或需延長(zhǎng)多少時(shí)間,
又如在高速鋼淬火時(shí),由于加熱的溫度接近熔點(diǎn),而
測(cè)量溫
度所采用的輻射式高溫計(jì)又不十分有把握,加之高速鋼的淬火效
率極高,一旦報(bào)廢或反工就勢(shì)必造成很大的損失,所以常在淬火
之前或在淬火過(guò)程中要抽查工件。諸如上述這樣的金相檢驗(yàn),都
要求在極短時(shí)問(wèn)內(nèi)完成,因此在一些不需要拍照以及不需要詳細(xì)
地分辨非金屬夾雜物的情況下,可以采用快速制備試樣的方法,
以極大地壓縮金相檢驗(yàn)的時(shí)問(wèn)。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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