標(biāo)題：三維顯微鏡的參數(shù)是以二維圖像上的測(cè)量
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-1-1 19:29:46
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正文:
三維結(jié)構(gòu)的參數(shù)是以二維圖像上的測(cè)量及計(jì)數(shù)的數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)
的。二維圖像上的測(cè)量包括面積與曲線長(zhǎng)，二維圖像上的計(jì)數(shù)，
主要是顆粒截面的計(jì)數(shù)。
假如二維圖像上有一個(gè)完整的細(xì)胞截面，其中包含一個(gè)細(xì)胞
核的截面，形狀很不規(guī)則，如何測(cè)量這兩個(gè)截面的面積?從原則
上講,有面分析、線分析、點(diǎn)分析三種方法。
面分析法
如果有求積儀或圖像分析系統(tǒng)，只要用觸筆在被測(cè)而積周界
上走一趟，就可以得到面積的數(shù)值。
如果只要細(xì)胞核與細(xì)胞兩個(gè)截面面積的比值，則可以用簡(jiǎn)便
的方法求出。
在二維圖像上數(shù)顆粒的數(shù)目，要求先確定側(cè)試面積，在此面
積之內(nèi)計(jì)數(shù)。
首先在底片或照片上劃定測(cè)試面積，通常為長(zhǎng)方形。由于顧
粒截面有可能壓在邊線上，在計(jì)數(shù)時(shí)必須遵循一定的原則。
細(xì)胞及其各種形態(tài)結(jié)構(gòu)成分的形狀往往是不規(guī)則的，要確定
它們體積是不很容易的。只有對(duì)于形狀比較規(guī)則的結(jié)構(gòu)，才較容
易直接測(cè)算它們的體積。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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