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正文:
晶粒襯度
立方系
金屬是光學(xué)各向同性的.清潔的拋光試樣無(wú)變化的
反射偏振光并且在兩正交偏振器下所
有晶粒呈現(xiàn)出均勻的暗度。用適當(dāng)各向異性薄膜涂層后
(Lacombe和Beaujara(1945))它對(duì)偏振光就表現(xiàn)為敏感
的了,各向異性的方向取決于在下面的晶粒的取向.非立方
系金屬都是光學(xué)各向異性的,無(wú)須表面處理對(duì)偏振光就有所
反應(yīng),然而,反差程度通常受制樣方法的影響,并且至少部
分地歸因于表面膜,蝕坑等.
相鑒定
這是在研究透明材料中偏振光的主要用途之一,但它還
不能完全用于非透明物質(zhì)。利用錐光偏振化的干涉圖形有
相當(dāng)大的可能性;此效應(yīng)可在視場(chǎng)里或者更多地在物鏡的
后焦平面上觀察到。
在前一方法中,利用帶有正交偏振器的平面偏振光,通
過(guò)調(diào)整樣品臺(tái)及檢偏器裝置使光譜的一端比另一端消光更完
全,這是由于偏振面因反射而旋轉(zhuǎn)的量以及橢圓率的大小隨
波長(zhǎng)而變化的結(jié)果、于是利用白色光源將樣品從消光位置轉(zhuǎn)
動(dòng)到最大亮度45°位置,然后將檢偏器從正交位置一直轉(zhuǎn)動(dòng)
到視場(chǎng)獲得藍(lán)色或淡紅色,這隨轉(zhuǎn)動(dòng)方向而定。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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