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正文:
實(shí)驗(yàn)的目的是學(xué)會電阻的精密
測量方法,并了解被測
電阻的微量變化與金屬晶體中的原子排列的變化的關(guān)系。
實(shí)驗(yàn)采用的試樣為Au-25%(原子)Cu合金。這個(gè)合金
與Cu3Au一樣,在低溫時(shí)形成遠(yuǎn)程有序晶格,在臨界溫度
(約200℃)以上變?yōu)闊o序。如果此合金從臨界溫度以上(本
實(shí)驗(yàn)為500℃)在水中快速冷卻,則不形成遠(yuǎn)程有序狀態(tài),
而保留無序狀態(tài)。如此種無序狀態(tài)的合金低溫回火(本實(shí)驗(yàn)
為70℃或者100℃),則發(fā)生有序化。但是,這種有序化不
是從無序直接轉(zhuǎn)變?yōu)檫h(yuǎn)程有序,而是可能經(jīng)過短程有序狀
態(tài)。短程有序狀態(tài)可以認(rèn)為是在Au原子和Cu原子任意排
列的無序狀態(tài)的合金中,分布著很多的原子有序排列的小區(qū)
域。在具有這種狀態(tài)的合金中,如射入電子流時(shí),電子流在
有序小區(qū)域的邊界受到散射,這種情況和溶劑由于折射率不
同的膠體粒子的作用而對光產(chǎn)生散射的情況相類似。因此,
如對保留了無序狀態(tài)的Au-25% (原子)Cu合金進(jìn)行低溫回
火,隨著短序有序化的進(jìn)行,電阻將增加。在本實(shí)驗(yàn)里研究電
阻增加的方式,觀察從無序狀態(tài)到短程有序狀態(tài)的進(jìn)行過程。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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