標題：顯微鏡測量被截割的晶粒數(shù)比測量晶界交點數(shù)效果好
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-5-13 18:53:15
將本頁加入收藏
下一篇：金屬夾雜物分類計量多功能金相顯微鏡廠商
上一篇：第二相晶粒與基體晶粒大小相差不多-晶粒度顯微鏡
點擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報價--丨--
---
---
---
正文:
截面法比較簡單且能得到準確的結果，首先用三圓測
試網(wǎng)格或其它測試網(wǎng)格測量出測試線截割的基本相晶粒
數(shù)N，以這類情況測量被截割的晶粒數(shù)要比測量晶界交
點數(shù)效果好得多（對雙相組織這兩種測量值不一樣）。
高速工具鋼的原始奧氏體晶粒度通常為9-12級，用斷
口測定不準確，晶粒度從9級變化到12級，單位面積內(nèi)
的晶粒度將增加近10倍，而平均線截距長度由14.1μm
減小至5μm，但晶粒度級別只改變3個單位，高速工具
鋼晶粒的細化能顯著改變其性能，因此需精確測定其晶
粒度。
體視學的本質(zhì)就是要把一個截割平面上的測量結果轉
換為有關顯微組織的空間特征的結論，硨，有不少研究
者研究了通過確定平面上的晶粒大小分布來計算三維晶
粒大小分布以評價空間晶粒的大小，其大致過程是：
先制好樣品，然后在截面上測量平面晶粒大小，測量的
晶粒數(shù)最少是300-500。再將這些數(shù)據(jù)進行分組后作一
系列計算來求出單位體積內(nèi)的晶粒數(shù)N，在計算中要假
定晶粒具有一定形狀（例如為球形）并考慮截割效應
，即截割平面可能從晶粒中心到晶粒角之間的任何部位
切割晶粒，盡管做了許多簡化的假設，但是由這樣的計
算所得到的晶粒大小更具有實際意義。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/6954.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應商