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標(biāo)題：電光器件細(xì)晶粒尺寸-雜質(zhì)含量計(jì)量金相顯微鏡

信息分類:站內(nèi)新聞　　 作者:yiyi發(fā)布　　 時間:2015-5-20 2:03:05 將本頁加入收藏

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正文:

電光器件細(xì)晶粒尺寸-雜質(zhì)含量計(jì)量金相顯微鏡

    去除氣孔是使力學(xué)可靠性和介電可靠性最大改善多種

電功能的關(guān)鍵目標(biāo)。

    這對于電子基片、電光器件、離子導(dǎo)體、多層電容器

以及壓電系統(tǒng)等都是特別重要的，細(xì)晶粒尺寸也是對控制

介電性能起重要作用的，因?yàn)樗�能控制畸尺寸，控制畸�?/div>

的移位，引起的特性上形成磁滯回線，因而引起功率損耗。

    在特殊的離子及電子電導(dǎo)的情況下，性能的優(yōu)選及可

靠性的改進(jìn)可能是復(fù)雜的，特別當(dāng)器件是在高溫下工作時，

要考慮的因素是所要求的雜質(zhì)含量，它的存在以給出合適

的電導(dǎo)而不致偏析到晶界上去，而在晶界處它們會干擾電

導(dǎo)過程，增大晶粒尺寸會使包含在電導(dǎo)過程中的晶界數(shù)目

降低，因而降低了晶界對總電阻的貢獻(xiàn)，但是這會導(dǎo)致力

學(xué)性能變?nèi)�，所以確定晶粒尺寸時必須綜合考慮，此外，

一些晶粒的擇優(yōu)定向會提高電導(dǎo)率，其作法讓電導(dǎo)平面與

晶界方向垂直，在高溫超導(dǎo)體中，如此的定向措施可視為

達(dá)到高的臨界電流的理想方法。

出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科

特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/6979.html 　
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