標(biāo)題：晶粒度測(cè)定，通過縱截面可檢測(cè)-金相試樣分析軟件
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-6-5 22:54:10
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正文:
晶粒度測(cè)定，通過縱截面可檢測(cè)-金相試樣分析軟件
金相試樣的制備和顯示方法取樣金相試樣的切取必須
具有一定的代表性，要審慎地考慮試樣的切取部位和被檢
驗(yàn)面的取向，一般說，取橫截面主要是觀察：
1 、試樣邊緣到中心部位顯微組織變化；
2 、表層缺陷檢驗(yàn)，如脫碳、氧化、過燒、折疊等；
3 、表面處理結(jié)果的研究，如表面淬火硬化層，化學(xué)
熱處理滲層，鍍層等；
4 、晶粒度測(cè)定等，通過縱截面可觀察；1 、非金屬
夾雜；2 、測(cè)定晶粒變形程度；3 、鑒定帶狀組織及通過
熱處理消除帶狀組織有效果等。
對(duì)于零件熱處理質(zhì)量的金相檢驗(yàn)，必須針對(duì)零件的形
狀和處理工藝，以切取最有代表性的部位，在檢查和研究
零件早期失效的原因時(shí)，更要經(jīng)過周密慎重考慮，力求具
有代表性，首先將外觀狀況記錄下來，再從零件上不同部
位截取試樣，例如斷裂處或無裂紋處分別取試樣觀察顯微
組織，以資比較。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/7042.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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