標(biāo)題：測(cè)量很長(zhǎng)的零件或要求儀器結(jié)構(gòu)-工具顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-7-7 16:09:08
將本頁加入收藏
下一篇：用測(cè)微讀數(shù)顯微鏡或自動(dòng)讀數(shù)裝置測(cè)量時(shí)的讀數(shù)
上一篇：阿貝測(cè)長(zhǎng)光學(xué)儀器-測(cè)量?jī)x器或精密加工件讀數(shù)顯微鏡
點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--
---
---
---
正文:
阿貝原則
阿貝原則是絕對(duì)測(cè)長(zhǎng)的根本問題．
在各種絕對(duì)測(cè)長(zhǎng)器中都需要一標(biāo)準(zhǔn)量，如精密線紋、精
密螺紋、精密齒條等。為了提高測(cè)量精度，對(duì)于被測(cè)量和標(biāo)
準(zhǔn)量之間的相互位置以如何配置為宜，阿貝原則認(rèn)為：若把’
標(biāo)準(zhǔn)量與被測(cè)量放在同一測(cè)量中心線上，能得到更為準(zhǔn)確的
測(cè)量結(jié)果。這是因?yàn)�，量具滑座在�?dǎo)向面上滑動(dòng)時(shí)不可避兔
地會(huì)有微小傾斜，若配置方式符合阿貝原則，此項(xiàng)傾斜所引
起的測(cè)量誤差為二次誤差，可以忽略不計(jì)；而若配置方式不
符合阿貝原則，則所引起的測(cè)量誤差為一次誤差，一般不能：
忽略不計(jì)。
測(cè)量誤差可以忽略不計(jì)．在長(zhǎng)度的精密測(cè)量中，為減小測(cè)量
誤差，阿貝原則是必須滿足的條件。
大部分量具量?jī)x的設(shè)計(jì)是滿足阿貝原則的，如千分尺、
千分表、深度游標(biāo)尺、立式和萬能測(cè)長(zhǎng)儀、各種比較儀等．
不過，當(dāng)測(cè)量很長(zhǎng)的零件或要求儀器結(jié)構(gòu)緊湊的情況下，其
設(shè)計(jì)也往往不遵守阿貝原則，如游標(biāo)卡尺，游標(biāo)高度尺，各
種工具顯微鏡等。對(duì)于不符合阿貝原則的情況，在測(cè)量時(shí)應(yīng)
盡可能使被測(cè)量和標(biāo)準(zhǔn)量靠近
以減小阿貝誤差。另外，在制作精密的直線刻度板(例
如編碼裝置等)時(shí)，也必須滿足阿貝原則，要把所印刻直線
刻度的軸線和激光干涉儀的反射干涉光路裝置在一直線上．
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/7168.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商