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正文:
比較法是將被測(cè)表面與
粗糙度樣塊比較-粗糙度檢測(cè)
顯微鏡
表面粗糙度的檢測(cè)
測(cè)量表面粗糙度的儀器形式多樣,從測(cè)量原理來(lái)看,有比較
法、光切法、光干涉法和針描法。
比較法
比較法是將被測(cè)表面與粗糙度樣塊比較,用目測(cè)或手摸來(lái)判
斷被測(cè)面的粗糙度等級(jí)。使用簡(jiǎn)便,適宜車(chē)間生產(chǎn)檢驗(yàn)。
為使比較的結(jié)果一致,粗糙度樣塊的材料、外形和加工方法
應(yīng)與被測(cè)零件相 用粗糙度樣塊跟工件比較同,現(xiàn)今已由專(zhuān)業(yè)
廠,按車(chē),銑、刨、磨、鉆,鏜等復(fù)制成套標(biāo)準(zhǔn)樣塊供應(yīng)。也可
從生產(chǎn)的零件中挑選樣品,經(jīng)儀器檢定后,作標(biāo)準(zhǔn)樣塊使用。
粗糙度高時(shí),需借助顯微鏡放大觀察。
光切法測(cè)量原理
光切法是將一束薄平的光帶,斜向45°照亮被測(cè)表面,從反
射方向觀察光帶與表面的交線。此時(shí)表面輪廓的峰谷高度被放大
了根號(hào)二倍,經(jīng)過(guò)顯微鏡,再放大N倍,成象在目鏡視場(chǎng)中。再
用讀數(shù)目鏡中的十字線之一瞄準(zhǔn)影象邊緣的峰頂,讀數(shù),然后移
動(dòng)十字線瞄準(zhǔn)影象邊緣的谷底,讀數(shù)。因標(biāo)尺與十字線成45°交
角,因此,兩次讀數(shù)之差為實(shí)際輪廓高度的2N倍。測(cè)量基本長(zhǎng)度
內(nèi)五個(gè)最,高峰頂和五個(gè)最低谷底之間的距離,取平均值,即得
Rz值。
按光切原理制成的儀器叫做雙管顯微鏡,又稱(chēng)光切顯微鏡,
用于測(cè)量Rz=0.5—μm.
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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