標(biāo)題：待測礦物各粒級顆粒在不同礦石中的含量比例計量顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-8-3 17:12:58
將本頁加入收藏
下一篇：顯微鏡測量樣品及其相應(yīng)測算根據(jù)各類型的相對含量
上一篇：礦物的嵌布特性和連生礦物之間的嵌鑲測定金相顯微鏡
點擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報價--丨--
---
---
---
正文:
待測礦物各粒級顆粒在不同礦石中的含量比例計量顯微鏡
礦石中待測礦物顆粒盡管呈不等粒產(chǎn)出，但當(dāng)各大小粒級的顆粒
皆按一定比例均勻嵌布地礦石的各部分中時，隨意測量少數(shù)礦石光
片中待測礦物的粒度特性，也可代表礦石中該礦物的嵌布粒度，可
是這樣的情況并不普遍。
通常待測礦物的各粒級顆粒在不同礦石中的含量比例并不一致，
所以取不同礦石光片所測得的礦物粒度情況將各不相同，因此粒度
測量時選取具有足夠代表性的礦石樣品是極為重要的工作，對不具
粒度代表性的礦石樣品進行任何精確的粒度測量也將是徒勞，因為
我們所需要了解的是礦石整體中某種或某幾種礦物的嵌布粒度特性
，而不是某塊礦石中的礦物粒度情況，對粒度嵌布不均勻的礦石，
若使測量的結(jié)果與礦石的整體情況相近似，就需要進行多塊礦石的
測量工作，可是供顯微鏡下測量粒度用的礦石光片數(shù)量卻不可能太
多，因此就必須通過分類加權(quán)取樣或碎礦拌均縮分的方法來選取測
量樣品，即選取具有粒度代表性可供定量測量用的樣品。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/7275.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商