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正文:
刻線機可以達(dá)到的刻線精度為±15秒-光學(xué)
測量儀器
由光源發(fā)射出來的光線經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)聚焦到攝影載體的
表面上。透過攀測圖挈象素的光通量擐射到光電轉(zhuǎn)換器上。
光電轉(zhuǎn)換器的輸出信號與投射到它上面的光通量成正比。
信
測量光學(xué)密度同樣可以采用兩種方法:直接讀數(shù)法和補
償法
在研制這類測量系統(tǒng)時,正確地選擇光楔的轉(zhuǎn)速和斬波
頻率是一個重要的問題。當(dāng)斬波頻率很低時,同步檢波器輸
出端會出現(xiàn)二次斬波頻率脈動波形。這對于檢零器是一種噪
聲。而提高斬波頻率又會增加對斬波器的精度要求。
根據(jù)光度測量系統(tǒng)電子通道的傳遞函數(shù)以及同步檢波器
輸出端紋波允許值來確定斬波頻率。
為了評價該系統(tǒng)的極限工作狀況,我們來分析一下它的
動態(tài)特性。
光電倍增器的輸出信號是按指數(shù)曲線變化的。當(dāng)它通過
電子通道時,就會發(fā)生畸變和滯后,這就給測量光學(xué)密度帶
來誤差。
調(diào)制器加工誤差會引起同步檢波器輸出端出現(xiàn)噪聲。調(diào)
制器的制造不精確性表現(xiàn)在圓盤上刻線的不準(zhǔn)確,F(xiàn)代化的
刻線機可以達(dá)到的刻線精度為±15秒。以下我們分析斬波
器誤差引起的噪聲。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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