標(biāo)題：光學(xué)顯微鏡在粒度測(cè)定測(cè)試實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用技術(shù)簡(jiǎn)介
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-8-19 17:15:21
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正文:
光學(xué)顯微鏡在粒度測(cè)定測(cè)試實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用技術(shù)簡(jiǎn)介
如前所述，由于粉末具有和一般金屬不同的特性，因此，
在粉末冶金法中，為了便于控制粉末的制造及制品質(zhì)量，對(duì)粉
末的特殊的物理及化學(xué)性能進(jìn)行測(cè)定是重要的。測(cè)定粉末性
能大體上可分成：(1)粉末顆粒；(2)壓制成型性能；(3)化學(xué)
性質(zhì)等三方面內(nèi)容。
粉末冶金法中測(cè)定粉末粒度及其分布是極為重要的，并
且，其測(cè)定數(shù)據(jù)難子準(zhǔn)確。為此，想出了各種測(cè)定方法，而這
些方法中有各自可能測(cè)量的粒度范圍。
即使用這些測(cè)定方法得到了粒度，但也并不表明粒子大
小的真正含義。首先，(1)粉末形狀是不規(guī)則的；(2)粉末粒
子不是每個(gè)都分開的(大多是幾個(gè)相互粘在一起，因此，即使
用分散劑也不可能完全散開)。另外，各種測(cè)定方法都有各自
的優(yōu)缺點(diǎn)。因此，當(dāng)實(shí)際測(cè)量時(shí)，必須根據(jù)粉末種類選用適當(dāng)
方法。
粒度測(cè)定法大致可分為測(cè)定粉末粒徑法和測(cè)定粉末比表
面法。以下就測(cè)定粒度方法中廣泛應(yīng)用的篩分法、光學(xué)顯微
鏡法、沉降法和透過法等稍加詳細(xì)說明。有時(shí)也常用吸附法
和反應(yīng)法等。
就透過法、吸附法和反應(yīng)法說，與其說是測(cè)定粉末的粒
度，倒不如說是測(cè)定粉末的比表面。如用透過法，當(dāng)氣體通過
粉末時(shí)，就利用粉末的比表面越大，氣體越難于通過來測(cè)定；
同樣，用吸附法，當(dāng)粉末吸附液體時(shí)，就利用粉末的比表面越
大吸附的就越多來測(cè)定；用反應(yīng)法時(shí)，就利用粉末的比表面越
大反應(yīng)激烈來測(cè)定。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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