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正文:
礦物微粒晶體結(jié)構(gòu)顆粒大小計量
金相顯微鏡
對試樣進(jìn)行X射線衍射
測量是一種研究雛晶方位的最好方法,
大體上,可用下述方法進(jìn)行評價,即在固體試樣中選一個座標(biāo)系
,以結(jié)晶單元的晶軸為另一座標(biāo)系,并將其中之一相對于另一的
方位分布表示出來,固體試樣的座標(biāo)系選定后,雛晶方位分布就
成為構(gòu)造巖石學(xué)家所熟悉的極點(diǎn)圖的形式。
考慮到試驗的不精確性和可能有各式各樣的雜質(zhì)和在許多粘土
中的各種晶體結(jié)構(gòu),表中數(shù)據(jù)表現(xiàn)出是在短期的試驗期間吸附在
每類礦物微粒表面上的水的相對數(shù)量,由此看來,塑限可以相當(dāng)
密切地與比表面積和顆粒大小聯(lián)系進(jìn)來,由于顆粒大小取決于礦
物晶體完善程度,可以預(yù)料,在有相似的可交換離子的諸礦物中
,其阿特堡界限很不一致,特別是綠坡縷石,可因粘土-水體系
的觸變性而有被曲解的趨勢。
液即也與比表面積有密切聯(lián)系,此外不受到吸附在更易分散的
粘土礦物的結(jié)構(gòu)單元的層間表面上的水的影響,所以液限更強(qiáng)烈
地受到基本結(jié)構(gòu)和可交換的離子的存在的影響。
細(xì)粒多礦物集合體中的礦物,最易于用X-射線衍射法鑒定,地
質(zhì)專業(yè)大學(xué)生應(yīng)該熟悉X-射線衍射法、單晶體測角法、粉晶照像
和衍射計,以及某些不大常規(guī)的推斷鑒定法的基本原理,同樣也
認(rèn)為他們應(yīng)熟習(xí)于確定晶形的有理指數(shù)定律。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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