標題：檢測儀器由雜光引起的誤差,光學儀器質(zhì)量檢測
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-11-19 16:13:04
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正文:
檢測儀器由雜光引起的誤差,光學儀器質(zhì)量檢測
雜光檢查
凡是屬于檢測儀器不需要的光線都稱為發(fā)桃，它對吸光度法的準
確性有嚴重影響，但卻常被忽視，雜光的來源的內(nèi)部和外部因素。
1、儀器內(nèi)部因素
如暗室漏光，內(nèi)壁黑漆脫落，比色杯架安裝不當，光學元件灰塵
散射增加，光柵或棱鏡質(zhì)量不佳，雜散光強，變帶增寬，濾光片老
化及儀器工作不正常時的電訊號等。
儀器外部因素
如室內(nèi)光線過強而漏入儀器，儀器暗室蓋不嚴，樣品本身有熒光
及沒有通過樣品而直接到達檢測器的光線。
由該表可知，當真實吸光度值增大時，由雜光引起的誤差也隨之
加大，這是影響高濃度測定的一個重要因素，在引起雜光產(chǎn)箋因素
末被糾正前，雜光所造成的誤差有重現(xiàn)性，故為系統(tǒng)誤差，完全消
除雜光可能有困難，便監(jiān)測雜光水平并設法控制在一定允許范圍內(nèi)
應是可行的。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/7711.html
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